HemiView數字植物冠層分析系統
用途：HemiView數字植物冠層分析系統通過處理影像數據文件來獲取與冠層結構有關的，例如葉面積指數、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數據的相關信息，能夠測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。其軟件可以計算輻射指標、冠層指標、測量地點的光線覆蓋狀況...
SunScan專業版植物冠層分析儀
用途：SunScan專業版冠層分析儀是一款簡便的測量和分析冠層中入射和透射光合有效輻射（PAR）的系統，提供了關于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數（LAI）。SunScan冠層分析系統不需要等待特殊的天氣條件進行使用，可以在大多數光照條件...