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LaiPen LP100葉面積指數測量儀

用途：LaiPen LP 110用于測量闊葉冠層的葉面積指數（Leaf Area Index，LAI）。葉面積指數是指單位土地面積上植物葉片總面積占土地面積的倍數。即：葉面積指數=葉片總面積/土地面積。 測量原理：LaiPen LP 110使用廣角光學傳感器計...

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TRAC PLUS植物冠層分析儀

用途：葉面積指數（LAI）是在生態學與氣候學中是重要的生物物理參數，在生態學及氣候學領域中有著廣泛的應用。TRAC PLUS植物冠層分析儀采用獨特的創新技術，在冠層下方沿著橫斷面測定光合有效輻射分量，然后將之轉換為林隙分布分數，從而計算出葉面積指數等其它參數。...

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SunScan無線電版植物冠層分析儀

用途：SunScan無線電版植物冠層分析儀是一款簡便的測量和分析冠層中入射和透射光合有效輻射（PAR）的系統，提供了關于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數（LAI）。SunScan冠層分析系統不需要等待特殊的天氣條件進行使用，可以在大多數光...

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SunScan標準版植物冠層分析儀

用途：SunScan標準版植物冠層分析儀是一款簡便的測量和分析冠層中入射和透射光合有效輻射（PAR）的系統，提供了關于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數（LAI）。SunScan冠層分析系統不需要等待特殊的天氣條件進行使用，可以在大多數光照...

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HemiView數字植物冠層分析系統

用途：HemiView數字植物冠層分析系統通過處理影像數據文件來獲取與冠層結構有關的，例如葉面積指數、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數據的相關信息，能夠測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。其軟件可以計算輻射指標、冠層指標、測量地點的光線覆蓋狀況...

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SunScan專業版植物冠層分析儀

用途：SunScan專業版冠層分析儀是一款簡便的測量和分析冠層中入射和透射光合有效輻射（PAR）的系統，提供了關于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數（LAI）。SunScan冠層分析系統不需要等待特殊的天氣條件進行使用，可以在大多數光照條件...

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